Сканирующий зондовый микроскоп Ntegra Prima.
Позволяет исследовать морфологию образца методами атомно-силовой и туннельной микроскопии. Сканирующая головка микроскопа находится в вакуумной камере, которая обеспечивает проведение исследований в условиях среднего и высокого вакуума. Наличие активной и пассивной защиты от вибраций позволяет достигать высокой точности измерений. Наличие специализированной измерительной головки позволяется проводить измерения морфологии объектов, находящихся в жидкой среде. Позволяет реализовывать следующие методы измерений:
Атомно-силовая микроскопия (контактная, бесконтактная и полуконтактная моды): изучение морфологии поверхности образца.
Магнитная силовая микроскопия: изучение распределения магнитного момента по поверхности образца.
Метод зонда Кельвина: измерение распределения потенциала поверхности (контактной разности потенциалов) по поверхности образца.
Силовая микроскопия пьезоотклика: Методика СМП основана на обратном пьезоэффекте, который заключается в линейной связи между электрическим полем и механической деформацией.
Сканирующая туннельная микроскопия: изучение морфологии проводящих образцов. Позволяет получать изображение с атомарным разрешением. Также позволяет получать туннельные вольт-амперные характеристики образцов.
Примеры изображений, полученных при исследовании:
Изображения нанокластеров арахината никеля (размеры изображения 1х1 мкм), сформированных под ленгмюровских монослоев арахиновой кислоты, полученные в полуконтатном режиме отображения топологии поверхности и фазового контраста